在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中,精確測(cè)量鍍層厚度至關(guān)重要。鍍層測(cè)厚儀作為一種高精度的測(cè)量工具,能準(zhǔn)確快速地測(cè)量各種材料表面上的涂層厚度。以下是使用鍍層測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度的基本步驟:一、準(zhǔn)備工作在開始測(cè)量之前,需要先準(zhǔn)備好鍍層測(cè)厚儀,確保電池充足,儀器狀態(tài)良好。同時(shí),需要了解待測(cè)鍍層的材質(zhì)、涂層類型以及基材的....
在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中,精確測(cè)量鍍層厚度至關(guān)重要。鍍層測(cè)厚儀作為一種高精度的測(cè)量工具,能準(zhǔn)確快速地測(cè)量各種材料表面上的涂層厚度。以下是使用鍍層測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度的基本步驟:
利用測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁的覆層而流入鐵磁性金屬基體的磁通量的大小來確定鍍層的厚度。適合測(cè)量鋼鐵等鐵磁性金屬基體上的非磁性金屬鍍層,如涂料、清漆、搪瓷、塑料、橡膠覆層,鍍鉻、鍍鋅、鍍鎘、鍍銅層等有色金屬電鍍層以及各種防腐涂層。
通過高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體越近,則渦流愈大,反射阻抗能力越大。這個(gè)反饋?zhàn)饔帽碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。
除了上述的磁性和渦流測(cè)厚法,還有楔切法,光學(xué)法(如輪廓尺寸測(cè)量法,雙光束顯微鏡法),電解法(如陽極溶解庫(kù)倫法)、金相法、化學(xué)法(點(diǎn)滴法,溶解稱重法,計(jì)時(shí)液流法),機(jī)械法(如稱重法,厚度差測(cè)量法),X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法等多種鍍層厚度測(cè)量方式。其中電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。X射線和β射線法也屬于無接觸無損測(cè)量,測(cè)量范圍較小,X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。
在開始測(cè)量之前,需要先準(zhǔn)備好鍍層測(cè)厚儀,確保電池充足,儀器狀態(tài)良好。同時(shí),需要了解待測(cè)鍍層的材質(zhì)、涂層類型以及基材的導(dǎo)電性能等基本信息。
為保證測(cè)量精度,需先對(duì)鍍層測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)。根據(jù)不同的測(cè)量原理,可能需要選擇不同的校準(zhǔn)方法。例如,對(duì)于磁感應(yīng)法測(cè)厚,需要使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn);而對(duì)于電渦流測(cè)厚,則可以使用已知涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試樣進(jìn)行校準(zhǔn)。
根據(jù)已知的涂層類型和基材的導(dǎo)電性能等信息,設(shè)置鍍層測(cè)厚儀的相關(guān)參數(shù)。這些參數(shù)包括涂層的導(dǎo)磁率、電導(dǎo)率等,以確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。
在開始測(cè)量時(shí),將測(cè)頭接觸到涂層表面,保持測(cè)頭與涂層表面平行。慢慢移動(dòng)測(cè)頭,使測(cè)頭與涂層表面完全接觸,此時(shí)儀器會(huì)顯示出涂層的厚度。為保證測(cè)量的準(zhǔn)確性,建議在同一位置進(jìn)行多次測(cè)量,并取平均值。
測(cè)量完成后,需要對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和記錄。對(duì)于不同的涂層類型和基材,需要建立相應(yīng)的數(shù)據(jù)庫(kù),以便快速對(duì)比和處理數(shù)據(jù)。根據(jù)實(shí)際需求,可以生成相應(yīng)的報(bào)告,例如涂層厚度分布圖、合格率等。
在實(shí)際應(yīng)用中,除了磁感應(yīng)法和電渦流法外,還有多種測(cè)量鍍層厚度的方法。例如,X射線熒光法可以用于測(cè)量金屬和非金屬基材上的涂層厚度;β射線反向散射法可以用于測(cè)量薄膜厚度;以及利用原子力顯微鏡(AFM)和掃描隧道顯微鏡(STM)等高精度儀器進(jìn)行微觀尺度的涂層厚度測(cè)量。
使用鍍層測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度是一個(gè)相對(duì)簡(jiǎn)單的過程,但要獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,需要具備一定的操作技巧和經(jīng)驗(yàn)。在實(shí)際應(yīng)用中,應(yīng)根據(jù)具體情況選擇合適的測(cè)量方法和儀器,并嚴(yán)格按照操作步驟進(jìn)行測(cè)量。同時(shí),為保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性,建議定期對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)和維護(hù)。
產(chǎn)品型號(hào) | YT8500 |
產(chǎn)品名稱 | 專業(yè)版分體兩用涂層測(cè)厚儀 |
特性 | YT系列涂層測(cè)厚儀是3nh公司制造的完全擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國(guó)產(chǎn)涂層測(cè)厚儀,能快速、精準(zhǔn)的無損檢測(cè)各種涂覆在金屬基底上的涂層厚度。儀器完全符合ISO 2178、ISO 2360、GB/T 4956、GB/T 4957、ASTM B499等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的磁性法和渦流法測(cè)試原理。 儀器測(cè)量精準(zhǔn)、測(cè)試量程大、多種校正模式、多種測(cè)量模式、定位方便、功能強(qiáng)大,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等表面工程檢測(cè)領(lǐng)域,是涂層表面處理行業(yè)的基本裝備。 Fe基探頭可檢測(cè)噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度,例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。 NFe基探頭檢測(cè)噴涂在非磁性金屬基底(比如鋁、銅、黃銅、不銹鋼等)上所有絕緣涂層厚度,例如油漆層、噴粉層、涂瓷層等。 |
符合標(biāo)準(zhǔn) | ASTM B499,ASTM D1400,ASTM D709; ISO 2178,ISO 2360,ISO 2808; GB/T 4956,JB/T 8393 |
基體模式 | 鐵基/非鐵基 |
探頭形式 | 分體式 |
定位結(jié)構(gòu) | / |
分辨率 | 0.1μm |
測(cè)量范圍 | 0~5000μm |
測(cè)量精度 | 零點(diǎn)校正:±(3%H+1)μm; 兩點(diǎn)校正:±(1~3%H+1.5)μm; 注:H為樣品厚度 |
顯示屏 | IPS全彩屏, 1.14inch |
接口 | Type C USB;藍(lán)牙5.0;按鍵 |
存儲(chǔ)數(shù)據(jù) | 3500條,通過手機(jī)APP可擴(kuò)展海量存儲(chǔ) |
電池電量 | 鋰電池,充滿電單次可連續(xù)測(cè)試10000 |
測(cè)量模式 | 基礎(chǔ)模式、品管模式、連續(xù)模式、統(tǒng)計(jì)模式 |
最小測(cè)量尺寸 | 磁性:10×10mm; 非磁性:10×10mm |
最小測(cè)量厚度 | 磁性:0.2mm; 非磁性:0.05mm |
最小曲率 | 凸面半徑5mm;凹面半徑10mm |
顯示單位 | μm/mil |
尺寸 | 102×50×20mm(探頭?18x69) |
重量 | 80g |
工作溫度 | 0~40oC(10~90%RH無凝露) |
儲(chǔ)存溫度 | ?-10~50oC |
軟件支持 | 微信小程序,鴻蒙,Windows,Andriod,IOS |
標(biāo)準(zhǔn)附件 | 基體2塊(鐵基體,鋁基體),腕帶,擦拭布,USB數(shù)據(jù)線,定位片,校準(zhǔn)片 |
可選附件 | 打印機(jī),5V-2A電源適配器 |
注: | 校準(zhǔn)片一套5片(厚度略有差異),技術(shù)參數(shù)僅為參考,以實(shí)際銷售產(chǎn)品為準(zhǔn) |
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